超景深显微镜具有多种观察方式,以满足不同样品和测试需求。以下是几种常见的观察方式:
明场观察:
这是Z基本的观察方式,通过直接照射样品并观察反射光来成像。
适用于大多数常规样品的表面形貌观察。
暗场观察:
暗场观察通过特殊的光路设计,使得只有样品边缘或表面微小颗粒散射的光能够进入物镜,形成高对比度的图像。
这种方法特别适用于观察样品的细微结构、表面粗糙度以及微小颗粒等。
偏光观察:
偏光观察利用偏振光来观察样品的双折射现象,如晶体结构、纤维排列等。
通过旋转偏光镜,可以观察到样品内部结构的详细变化。
微分干涉观察(DIC,Differential Interference Contrast):
微分干涉观察通过引入微小的相位差来增强样品的表面形貌对比度,使样品的三维结构更加清晰可见。
这种方法特别适用于观察样品的表面起伏、细胞形态等。
明场+暗场组合观察:
某些超景深显微镜还支持明场和暗场的组合观察方式,通过电动切换或同时观察,可以综合两者的优点,更全面地分析样品。
多角度观察(如倾斜型超景深显微镜):
某些G端的超景深显微镜(如奥林巴斯DSX1000倾斜型)支持多角度观察功能,可以倾斜头部进行变焦,同时保持视场不变,从而实现对样品的多角度观察。
这种观察方式有助于更全面地了解样品的立体结构和表面特征。
3D成像与测量:
超景深显微镜通常还具备2D和3D成像功能,可以测量点间距、圆心距、轮廓、高度、面积等参数。
通过3D成像技术,可以直观地展示样品的立体形态和内部结构。
需要注意的是,不同的超景深显微镜品牌和型号可能具备不同的观察方式和功能特点。因此,在选择超景深显微镜时,需要根据具体的测试需求和样品特性来选择合适的型号和配置。同时,在使用过程中,也需要根据操作手册和实验要求来正确选择和切换观察方式,以获得Z佳的测试效果。